紅外分子熒光光譜儀又稱熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。

紅外分子熒光光譜儀*功能

●   自動預(yù)掃描功能，優(yōu)化未知樣品的測量條件。

●   比例光度光源能量監(jiān)控保證測量的穩(wěn)定性。

●   采用水平狹縫設(shè)計提高測量靈敏度，液體僅需0.6ml（采用標(biāo)準(zhǔn)10mm比色池樣品池），粉末樣品10uL（采用微量粉末夾具）就可以完成測試

●   高分辨率多級狹縫，光譜分辨率為1nm。

●   切光器控制使樣品的光氧化減到*小。

●   磷光分析和發(fā)光分析也是標(biāo)準(zhǔn)功能。 

分子熒光分光光度計功能特點
1． 熒光發(fā)射光譜
選擇某一固定波長的光激發(fā)樣品，記錄樣品中產(chǎn)生的熒光發(fā)射強度與發(fā)射波長間的函數(shù)關(guān)系，即得熒光發(fā)射光譜。
2． 熒光激發(fā)光譜
選定某一熒光發(fā)射波長記錄熒光發(fā)射強度作為激發(fā)光波長的函數(shù)，即得熒光激發(fā)光譜。
3．時間分辨技術(shù)；
可用于對混合物中光譜重疊但有壽命差異的組分進(jìn)行分辨并分別測量。
時間分辨熒光測定公式如下：
P(t) = P0 EXP (-t /τ)
式中P(t)：擬合指數(shù)函數(shù)
P0：強度取值
EXP：指數(shù)運算符
t：時間取值
τ：熒光平均時間壽命

紅外分子熒光光譜儀*技術(shù)指標(biāo)：
波長掃描范圍：220-900nm 波長精度：±1.5nm; 狹縫范圍：0.15-20nm
信噪比：S/N比150以上(水拉曼峰測定，狹縫5nm) 高掃描速度：5，500nm/min